16 Avril – Soutenance de thèse - Kevin Melendez

10 h30 Amphi Jean-Paul Dom - laboratoire IMS (Université de Bordeaux / campus de Talence)

Étude, application, amélioration et optimisation de la technique sonde par faisceau laser appliquée à tous types de composants électroniques.

Les circuits intégrés occupent une place de plus en plus importante dans de nombreux domaines d'application. Leur présence accrue est due aux performances croissantes des circuits VLSI « Very Large Scale Intergration » et à la possibilité de miniaturisation des systèmes les utilisant en télécommunication, micro-informatique, automobile, système spatiaux, etc. La densification des transistors occasionne non seulement des difficultés à localiser les défauts dits « hard », apparaissant durant les phases de développement (debug) ou de vieillissement, mais aussi l'apparition de comportements non fonctionnels purs du composant liés à des défauts de conception. Les techniques abordées dans ce document sont destinées à sonder des signaux temporels internes aux circuits microélectroniques à l'aide d'un outil appelé sondage laser (Electro-Optical Probing - EOP) et de sa variante (Electro-Optical Frequency Mapping - EOFM). Afin d'aller plus loin, des améliorations de cet instrument ont permis également d'optimiser des points clefs de cette technique: bande passante du système plus importante, extraction de signaux sous la forme d'harmonique, etc.

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